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(1) Presentation(s)

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Jeu. 20/12/2018 14:00 Amphi Jean Jacques Moreau, Bâtiment 2, RdC

Séminaire
ARNOULD Olivier (LMGC)
Caractérisation mécanique par microscopie à force atomique (AFM) 2/2

Sommaire:

Ce séminaire en deux temps (deux jeudis de suite) portera sur l'utilisation de la microscopie à force atomique (AFM) pour la caractérisation mécanique des matériaux aux échelles sub-micrométriques.

La première partie portera sur un petit historique du développement de la microcopie dite à sonde locale et sur le principe de fonctionnement des différents modes classiques d'un AFM. Nous aborderons aussi le problème des artefacts liées à cette technique d'imagerie des surfaces.

Après un bref rappel sur la mécanique du contact et l'indentation pour la mesure de propriétés mécaniques, la seconde partie portera sur les modes de fonctionnement des AFMs les plus courants de nos jours pour faire (ou tenter de faire) des mesures de propriétés mécaniques avec des illustrations dans le domaine de la caractérisation mécanique des parois végétales (bois, lin) et quelques éléments de calibration et de préparation des échantillons.


Pour plus d'informations, merci de contacter Le floc'h S.